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诺瓦星云申请LED屏缺陷测试方法、装置、系统及电子设备专利,可获取LED屏缺陷的信息

信息来源:looeoo.com   时间: 2026-07-11  浏览次数:181


本文源自:市场资讯

国家知识产权局信息显示,西安诺瓦星云科技股份有限公司申请一项名为“LED屏缺陷测试方法、装置、系统及电子设备”的专利,公开号CN121049297A,申请日期为2024年5月。

专利摘要显示,本申请适用于LED显示屏领域,提供了一种LED屏缺陷测试方法、装置、系统及电子设备,其中该方法包括:根据LED屏缺陷的类型和LED屏的参数生成测试画面,测试画面用于测试LED屏的缺陷程度;控制LED屏显示测试画面;获取测试图像,测试图像为拍摄设备对显示测试画面的LED屏拍摄而得到的图像;对测试图像进行处理以获取LED屏缺陷的信息,LED屏缺陷的信息包括是否存在LED屏缺陷,在存在LED屏缺陷的情况下,LED屏缺陷的位置、严重程度中的至少一种。

天眼查资料显示,西安诺瓦星云科技股份有限公司,成立于2008年,位于西安市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本9244.8万人民币。通过天眼查大数据分析,西安诺瓦星云科技股份有限公司共对外投资了18家企业,参与招投标项目1354次,财产线索方面有商标信息373条,专利信息1818条,此外企业还拥有行政许可30个。

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